工学部電子システム工学科の畑中裕司准教授らが国際学会SPIE Medical Imaging 2016でHonorable Mention Poster Awardを受賞しました

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2016/04/05
 

 工学部電子システム工学科の畑中裕司准教授らは、米国サンディエゴで開催されました国際学会SPIE Medical Imaging 2016においてHonorable Mention Poster Awardを受賞しました。

題目

Automated detection of retinal nerve fiber layer defects on fundus images: false positive reduction based on vessel likelihood

(眼底画像における視神経線維層欠損の自動検出:血管尤度に基づく偽陽性候補の削減)

著者

 Chisako Muramatsu, Kyoko Ishidab, Akira Sawada, Yuji Hatanaka, Tetsuya Yamamoto, Hiroshi Fujita

(村松千左子、石田恭子、澤田明、畑中裕司、山本哲也、藤田広志)

概要

 本邦の失明要因1位の緑内障の初期症状として、視神経線維層欠損(NFLD)があげられます。畑中准教授らの研究グループは、眼底画像からNFLDを自動検出することによって医師の診断を支援するシステムの開発に取り組んでおり、システムによる誤検出を大幅に削減する手法の開発に成功した。なお、受賞したポスター発表を畑中准教授が行いました。

ポスター受賞_Hatanaka